透明基材の視認性評価方法及び積層体の位置決め方法

Abstract

【課題】透明基材の視認性を効率良く正確に評価する。 【解決手段】透明基材の下にマークを設けて、透明基材越しに撮影し、観察されたマークが伸びる方向と垂直な方向に沿って、観察地点ごとの明度を測定して観察地点−明度グラフを作製し、マークの端部からマークがない部分にかけて生じる明度曲線の傾きによって透明基材の視認性を評価する。明度曲線のトップ平均値Btとボトム平均値Bbとの差をΔB(ΔB=Bt−Bb)として、観察地点−明度グラフにおいて、明度曲線とBtとの交点の内、マークに最も近い交点の位置を示す値をt1として、明度曲線とBtとの交点からBtを基準に0.1ΔBまでの深さ範囲において、マークに最も近い交点を示す値をt2としたときに、下記(1)式で定義されるSvを用いて視認性を評価する。Sv=(ΔB×0.1)/(t1−t2)・・・(1) 【選択図】図3

Claims

Description

Topics

    Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

    Patent Citations (5)

      Publication numberPublication dateAssigneeTitle
      JP-2000019064-AJanuary 21, 2000Sumitomo Chem Co Ltd, 住友化学工業株式会社Film evaluation method and film evaluation apparatus
      JP-2003309336-AOctober 31, 2003Toray Ind Inc, 東レ株式会社Laminated plate for flexible printed wiring board and the flexible printed wiring board
      JP-2005333028-ADecember 02, 2005Nitto Denko Corp, 日東電工株式会社配線回路基板
      JP-H04143641-AMay 18, 1992Kowa Boseki Kk, Mitsui Toatsu Chem IncMethod for measuring see-through characteristics of plastic film
      JP-H0618414-AJanuary 25, 1994Saint Gobain Vitrage Internatl, サン−ゴバン ビトラージュ アンテルナショナル積層窓ガラスの透明度を監視するための方法と装置

    NO-Patent Citations (0)

      Title

    Cited By (0)

      Publication numberPublication dateAssigneeTitle